镀层测厚仪, 随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用x射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,镀层测厚仪,是工业和科研使用相当广 泛的测厚仪器。 镀层测厚仪是将x射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次x射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的x射线只有45-75w左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
天瑞仪器股份有限公司(深圳,江苏)92年开始做光谱仪,在x荧光光谱仪领域,一直保持国内*;仪器质量可靠,且操作简单,使用方便,已得到很多大公司(华为,美的,富士康,华硕,广达,格力,仁宝等)的认可,目前累计销售叁万多台。
镀层测厚仪 镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求。 镀层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,x射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。 射线和β射线法是无接触无损测量,测量范围较小,x射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
杭州高精度镀层测厚仪, 涂镀层测厚仪中f,n以及fn的区别: f**ferrous 铁磁性基体,f型的涂层测厚仪采用电磁感应原理, 来测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层,例如:漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。 n**non- ferrous非铁磁性基体,n型的涂层测厚仪采用电涡流原理;来测量用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。 fn型的涂层测厚仪既采用电磁感应原理,又采用采用电涡流原理,是f型和n型的二合一型涂层测厚仪。
测厚仪如何选择 首先了解测厚仪类型:涂层测厚仪、超声波测厚仪、电解测厚仪、超声波涂层测厚仪、薄膜测厚仪(测厚规)、x射线测厚仪等;它可以从测量的产品是哪个部分来分类,也可以从测厚仪本身的测量原理来分类等等。 根据所测量产品的具体实际部分来分,测量产品的整体的,比如金属板、玻璃板等的厚度的是超声波测厚仪,这种仪器的称呼也是根据原理来命名的,只能测量一整块的厚度,而不能测量表面油漆层或镀层厚度,因为要测量的东西通常都在毫米以上,所以一般都是精确到毫米。
杭州高精度镀层测厚仪, 涡流测量原理 高频交流信号在测头线圈中产生电磁场,测头靠近导体时,就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小,也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度,所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯,例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较,主要区别是测头不同,信号的频率不同,信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样,涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um,允许误差1%,量程10mm的高水平。 采用电涡流原理的测厚仪,原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量,如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆,塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性,通过校准同样也可测量,但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体,但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。
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